The I nnovative R.E.T.E. approach to embedding reliability
Principles
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•DFR
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•Silicon Structure: Built In Self Test (BIST)
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•Stress Matrix
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•Algorithms
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•Equipment
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•Qualification-Opt im izat ion
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•Use of massive data from Validation phase to optimize design and process
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•Manufact uring-Adapt ive Test During Burn I n screening/ monitoring
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•Progressive Screening Reduction thanks to the TBDI cycles
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•Monitoring
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Design
Reliabilit y
Pr oduct ion
I mprovement
I mprovement
I mprovement
Allegati
Disclaimer
ELES Semiconductor Equipment S.p.A. ha pubblicato questo contenuto il 24 giugno 2020. La fonte è unica responsabile delle informazioni in esso contenute. Distribuito da Public, senza apportare modifiche o alterazioni, il 24 giugno 2020 22:57:03 UTC
